关于举办2012微电子与元器件计量测试研讨会的通知[CSIA]
 
 
关于举办2012微电子与元器件计量测试研讨会的通知
更新时间:2012/12/6 16:38:08  
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各有关单位:

        随着半导体技术的不断发展,微电子元器件向大功率、宽频带、高频率等方向发展,为加强微电子与元器件计量测试领域的交流与合作,跟踪国内外该领域的实用性技术和发展趋势,展示科研成果,探讨新理论、新方法、新技术,定于2012年12月20日-21日在北京举办“2012年微电子与元器件计量测试研讨会”。

        活动届时将邀请国防科技工业局、北京市人民政府、中国半导体行业协会的相关领导出席会议并讲话。请各有关单位做好参会准备并踊跃投稿。现将有关事项通知如下:

一、主办单位:工业和信息化部电子工业标准化研究院、中国半导体行业协会、国防科技工业微电子元器件一级计量站

二、承办单位:国防科技工业微电子元器件一级计量站

三、协办单位:中国电子技术标准化协会

中国计量测试学会自动计量测控技术专业委员会

四、支持媒体

《宇航计测》

五、会议时间、地点安排

(一)会议时间:

2012年12月19日:全天报到

2012年12月20日:研讨会

2012年12月21日:参观

(二)会议地点:

北京万寿宾馆(北京市海淀区万寿路甲12号)

六、会议内容

(一)高峰论坛

会议将邀请政府领导、产学研相关领域的专家参加会议,并就微电子与元器件计量测试领域的行业发展趋势及相关学术问题进行交流和研讨。

(二)专题讨论

专题一:集成电路设计、制造及使用过程中的测试技术;集成电路测试设备及专用测试设备的校准技术。

专题二:半导体工艺及特种器件所涉及的测试及校准技术(包括:大功率器件、光电器件、开关器件、微波功率器件、电真空器件、MEMS器件、纳米电子器件及相关测试设备)。

专题三:电子功能材料、电子元件、特种元件、磁性元件、传感器等产品的测试技术;相关专用测试设备的校准技术。

七、参会对象

中央及省市政府代表以及半导体行业组织(学会、协会)、国内外集成电路设计、制造、封装测试、装备、材料、计量检测、设计服务、商务咨询供应商、系统厂商、高等院校、研究机构和有关媒体代表等。

八、会议费

(一)注册费:500元人民币/人,含会议资料、会议期间午餐。

(二)住宿费:标准间460元人民币/天。

(三)会议统一安排食宿,费用自理。

九、联系人

史晓峰王耀国

电话:010-67831813、010-67831903

传真:010-67831895

Email:shixf@cesi.ac.cn,wangyaog@cesi.ac.cn

十、交通路线

(一)北京站乘地铁2号线到复兴门,换乘1号线至万寿路,向北直行100米左转即到。

(二)北京西站乘地铁1号线军事博物馆站至万寿路。

(三)首都机场乘机场快轨至东直门站,乘地铁换2号线至复兴门站,乘1号线至万寿路。

 

2012年11月5日

 

附件

 

2012年微电子与元器件计量测试研讨会参会回执

 

单位名称

 

通讯地址

 

邮编

 

业务范围

 

姓名

性别

职称/职务

电话

传真

手机

Email

预定房间

入住日期

退房日期

单住/合住

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

申请演讲:

 

拟演讲的题目:

拟演讲人姓名:                  职称/职务:                   

 

注:主办单位将根据申请情况统筹安排,如有特殊情况请提前声明。

参会负责人签字

 

 

 

      

 

 
来源:中国半导体行业信息网        
 
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